Morfologická analýza pomocí mikroskopu atomárních sil a její zpracování
Téma dosud nemá řešitele. Máš-li o něj zájem, zaregistruj se a přihlaš se k tématu.- Instituce
- Vysoké učení technické v Brně
- Fakulta/ústav
- Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
- Další údaje o pracovišti
- Ústav fyziky
- Lektoři
- Nikola Papež
- Podpora
- Téma nebylo finančně podpořeno.
Mikroskopie atomárních sil (AFM) je mikroskopická technika, která umožňuje trojrozměrné zobrazování povrchu materiálů s rozlišením až na atomární úrovni. Informace se shromažďují „dotykem“ nebo „oťukáváním“ povrchu pomocí mechanické sondy, která jej skenuje. AFM se používá k vývoji a charakterizaci nanomateriálů a nanostruktur, a ke studiu vlastností povrchu kovů, polovodičů, polymerů či keramiky.
Velmi důležitá je rovněž interpretace a zpracování naměřených dat, kdy i z velmi dobrých měření lze dosáhnout pouze průměrných a nezajímavých snímků. To ve výsledku pak snižuje nejen odbornost výzkumné práce, ale i celkový dojem z ní.
Prvně bude cílem studenta naučit se pracovat s mikroskopem atomárních sil a naměřit jím několik odlišných typů vzorků v nanoměřítku. Dále se student naučí v podstatě „od nuly“ zpracovat tyto data v prostředí Matlab či softwaru Gwyddion. Výsledkem budou profesionálně vytvořené snímky zvolených struktur a na základě teoretických poznatků o použitých materiálech a metodách i jejich popis. Student si tedy vyzkouší nejen práci s vědecko-výzkumnými přístroji, ale i nasbírá cenné zkušenosti, jak správně výsledky z nich interpretovat, na což standardně bývají v technických oborech ve vysokoškolském prostředí a vědě vyšší nároky.
Součástí celého procesu práce bude i nahlédnutí do Středoevropského technologického institutu (CEITEC Nano) pro výzkum v oblasti nanotechnologií a materiálových věd. Student bude mít také k dispozici pracoviště s počítačem, které může k práci využívat.