Univerzální testovací platforma nejen pro IoT
Téma již má řešitele.- Řešitel
- Jan Křivka - Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola Brno, Sokolská, příspěvková organizace
- Instituce
- Dům dětí a mládeže Brno, Helceletova, příspěvková organizace
- Další údaje o pracovišti
- Robotárna
- Lektoři
- Miroslav Burda
Během vývojové práce s programovatelnými mikrokontroléry nebo s deskami plošných spojů (DPS) se stává,
že některé vývody těchto zařízení se poškodí a nefungují správně. Přitom mikrokontrolér nebo DPS má běžně přes 40 vývodů (pinů),
takže nalezení takové závady bývá velmi zdlouhavé a pracné. Existující testery integrovaných obvodů se zaměřují na
jednoduché obvody, neprogramovatelné a maximálně do 16 pinů.
Práce navazuje na stejnojmennou práci z loňského školního roku, která úspěšně otestovala koncept
testování vstupně-výstupních pinů vývojových kitů ESP32-DevKitC a ESP32-S3-DevKitC pomocí platformy STM32 osazené na k tomu určené, navržené a vyrobené desce.
Cílem letošní pokračovací práce je upravit testovací platformu tak, aby byla snadno rozšiřitelná nejen pro testování dalších,
doposud nestestovatelných integrovaných obvodů a vývojových kitů, ale například také modelářských serv.
Možnost takového otestování zařízení nejen výrazně zkrátí vývojový cyklus prototypů, ale také umožní vytřídit vadná zařízení, ať už na začátku montáže zařízení
nebo například po skončení hromadné akce pro veřejnost, kde se propaguje elektronika.